NALT

Término preferido

microscopia de fuerza atómica

Topic

Tipo de microscopia de sonda de barrido en el que una sonda recorre sistemáticamente la superficie de una muestra que está siendo escaneada en una trama de barrido. La posición vertical es registrada a medida que un resorte conectado a la sonda sube y baja en respuesta a los puntos más altos y más bajos de la superficie. Estas desviaciones generan un mapa topográfico de la muestra.

microscopia de sonda de barrido

Field 001 in MARC Authority Format

60425

inglés

atomic force microscopy
magnetic force microscopy
piezoresponse force microscopy
scanning force microscopy

URI

https://lod.nal.usda.gov/nalt/188543

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Creado 7/10/12, última modificación 10/5/20